测量原理：不同的测量原理会影响精度。例如，磁性测厚法适用于导磁材料上的非导磁层厚度测量，通常精度较高。涡流测厚法则适用于导电金属上的非导电层厚度测量，但精度相对较低。
仪器校准：涂层测厚仪在使用前需要进行校准，以确保测量结果的准确性。校准包括零点校准和多点校准，使用标准样品进行比对校准。
测量范围和分辨率：不同的涂层测厚仪有不同的测量范围和分辨率。例如，某些涂层测厚仪的测量范围为0-1300um，精度为±(3%+2um)，分辨率为0.1um。
表面状态：基体金属和涂层的表面粗糙度会影响测量精度。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，因此需要在不同位置上增加测量次数以克服这种偶然误差。
环境因素：周围环境的磁场、温度和湿度等都可能影响测量结果。例如，强磁场会严重干扰磁性法测厚工作。
操作技术：操作者的技术也会影响测量精度。测量时，应保持探头与试样表面垂直，并施加恒定的压力。
仪器维护：涂层测厚仪需要定期维护和校准，以保持其精度。例如，清洁探头、更换电池、避免强烈震动或撞击等。
标准和规范：遵循相关的国际和行业标准，如ISO 2178-1982、GB/T4956-2003等，可以确保测量结果的可比性和一致性。
仪器质量：不同品牌和型号的涂层测厚仪质量不同，选择知名品牌和高质量的仪器通常可以提供更准确的测量结果。
测量条件：测量时的条件，如基体金属的磁性质、电性质、厚度，以及边缘效应、曲率、试件的变形等都会影响测量值的精度。
